金融界2024年10月25日音讯,国家知识产权局信息数据显现,成都态坦测验科技有限公司获得一项名为“半导体芯片老化测验柜”的专利,授权公告号CN 221860610 U,请求日期为2023年12月。
专利摘要显现,本实用新型揭露一种半导体芯片老化测验柜,包含:外柜;内胆,设置于所述外柜内,所述内胆的外壁与所述外柜的内壁之间构成风道,所述内胆的一侧为与所述风道连通的进风侧,另一侧为与所述风道连通的出风侧;风机组件,装置于所述外柜上,用于操控所述风道中的气流速度;控温组件,设置于所述风道中,用于操控所述风道中气体的温度;多层老化测验板,设置于所述内胆中且沿竖直方向顺次距离安置;多个吹风组件,每一个所述吹风组件对应与一层所述老化测验板上下设置,用以朝向所述老化测验板笔直吹风。本实用新型半导体芯片老化测验柜适用于高功率芯片的大批量测验,增加高功率芯片的同测数量,进步测验功率,进步测验产能,以满意市场供应需求。